Cámara de escaneo lineal TDI de alta velocidad 8K

Cámara TDI-sCMOS de alta velocidad 8K

180-1100 nm

256 etapas TDI

500 kHz a 8 K

Interfaz CXP x 4

Ventilador / Refrigeración pasiva

Precios y opciones

Descripción general

La Gemini 8KTDI LT es una plataforma de imagen TDI ligera diseñada para aplicaciones de inspección industrial escalables. Conservando la capacidad de imagen cuantitativa de grado científico de la generación anterior de la Gemini 8KTDI, la plataforma presenta un diseño compacto optimizado para entornos industriales. Satisface los requisitos clave en cuanto a precisión de inspección, eficiencia operativa, integración de sistemas y control de costes para líneas de producción modernas de alto rendimiento.

Diseño ligero para una integración eficiente

En comparación con la cámara de alto rendimiento 8KTDI de la generación anterior, la Gemini 8KTDI LT presenta un tamaño general un 64 % menor, un peso un 75 % menor y un consumo de energía un 50 % menor, lo que reduce significativamente la demanda de recursos del sistema. Para satisfacer mejor las necesidades de una integración eficiente, también se han optimizado varios componentes estructurales clave:
① Se ofrecen dos opciones de refrigeración: refrigeración pasiva y refrigeración por aire forzado, que sustituyen al anterior diseño integrado de refrigeración por aire y agua y proporcionan una mayor flexibilidad para la integración en la línea de producción.
② Se ha adoptado una interfaz CXP, más compatible con los sistemas de equipos industriales convencionales, para acortar los ciclos de desarrollo de equipos y puesta en marcha del sistema.

Frecuencia de línea de 500 kHz
para inspección industrial de alto rendimiento

En escenarios de inspección industrial a gran escala, como el embalaje avanzado y la inspección óptica automatizada (AOI), las plataformas de producción suelen ser maduras y muy estables. Por consiguiente, los requisitos clave para los equipos de imagen se centran en la compatibilidad con la línea de producción y la fiabilidad a largo plazo.
El Gemini 8KTDI LT ofrece una velocidad de línea estándar de 500 kHz a 8K, satisfaciendo plenamente las exigencias de una inspección estable y de alto volumen. En comparación con los modelos convencionales, también proporciona un mayor margen de velocidad, lo que permite futuras actualizaciones del tiempo de ciclo de producción.

Rendimiento cuantitativo de nivel científico
para una mayor garantía de rendimiento

La Gemini 8KTDI LT hereda las ventajas de captura de imágenes con poca luz de grado científico del modelo 8KTDI de alto rendimiento de la generación anterior, a la vez que ofrece dos opciones de sensor:
① Versión optimizada para el visible: cubre de 300 nm a 1100 nm, con una eficiencia cuántica máxima del 94,2 %.
② Versión optimizada para UV: cubre de 180 nm a 1100 nm, con una eficiencia cuántica (QE) de hasta el 65,8 % en la longitud de onda crítica de aplicación de 266 nm.
Además, las tecnologías de Tucsen de control de temperatura de precisión y corrección de uniformidad PRNU/DSNU a nivel de píxel garantizan una precisión cuantitativa estable en la detección de defectos, lo que proporciona una salvaguarda fundamental para el rendimiento de la producción.

Una matriz de productos basada en plataformas para diversas necesidades de aplicación.

La Gemini 8KTDI LT no es solo una cámara, sino una plataforma de imagen configurable de forma flexible. Actualmente hay tres modelos diferenciados disponibles:
① G8KTDILT-FAN-CXP: sensor optimizado para luz visible + arquitectura de refrigeración activa por aire, ideal para imágenes de fluorescencia biológica e inspección cuantitativa de alta precisión en aplicaciones industriales de campo oscuro con poca luz.
② G8KTDILT-HS-CXP: sensor optimizado para luz visible + arquitectura de refrigeración pasiva, más adecuado para la inspección de campo claro en la parte posterior de semiconductores y tareas de visión industrial convencionales.
③ G8KTDILT-UV-HS-CXP: Sensor optimizado para rayos UV + arquitectura de refrigeración pasiva, diseñado para la inspección de la parte posterior de semiconductores y la detección de microdefectos industriales de alta precisión.

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