inspection des semi-conducteurs

Inspection des défauts d'emballage

Défis liés à l'application

Dans le contrôle des boîtiers de semi-conducteurs, les principales tâches consistent à identifier les défauts de soudure, les anomalies de câblage et les désalignements intercouches. Compte tenu de la structure complexe et délicate des boîtiers de pointe, les caméras doivent offrir une imagerie haute résolution et à contraste élevé pour une résolution optimale des détails les plus fins. Parallèlement, les exigences strictes des cycles de production imposent une acquisition d'images rapide et un débit de données stable, afin d'éviter que la caméra ne devienne un goulot d'étranglement dans le processus d'inspection.

Inspection des défauts d'emballage
8KTDI-EN

Gemini 8KTDI

Caméra TDI-sCMOS haute vitesse à ultraviolets profonds

Le Gemini 8KTDI offre une sensibilité nettement supérieure sur ses longueurs d'onde d'application principales, avec des rendements quantiques de 63,9 % à 266 nm et de 58 % à 355 nm dans l'UV, et un pic de 93,4 % à 420 nm dans le visible. Il inaugure également la technologie d'interface de données haut débit 100G CoF. Grâce à une fréquence de ligne 8K pouvant atteindre 1 MHz, le débit global est doublé par rapport à la génération précédente. Doté du système de refroidissement et de réduction du bruit stable et fiable de TUCsen, il supprime efficacement le bruit thermique lors du fonctionnement à haute vitesse, minimise les fluctuations de données et améliore la précision des mesures. Il est ainsi particulièrement adapté aux applications de semi-conducteurs en amont exigeant à la fois une haute précision et un débit élevé.

Nos ingénieurs sont là pour vous aider – Contactez-nous

Tarification et options

pointeur supérieur
pointeur de code
appel
Service client en ligne
pointeur inférieur
floatCode

Tarification et options