Erausfuerderunge vun der Applikatioun
Plasmastudien benotzen spektroskopesch, interferometresch oder Bildgebungstechniken fir d'Evolutioun vun Ëmfeld mat héijen Temperaturen an héijer Energiedicht z'ënnersichen. Bei Kärfusiounsapparater a Laser-Plasma-Experimenter mussen wëssenschaftlech Kameraen extrem Spektralberäicher ofdecken - vun extremer Ultraviolettstralung bis zu Bremsstralung-Röntgenstralung - wärend se gläichzäiteg eng héich Detektiounseffizienz an eng niddreg Rauschleistung erhalen. Dëst erméiglecht eng zouverlässeg Erfaassung vu Stralungsdaten ënner extremen Bedéngungen, wat fundamental Abléck an d'Plasmadynamik ënnerstëtzt.
Dhyana XF95 / XV95
Soft-Röntgen- & EUV sCMOS-Kameraen
D'Dhyana XF95 / XV95, entwéckelt vun TUCsen, si spezialiséiert sCMOS-Kameraen, déi fir mëll Röntgen- (SXR) an extrem ultraviolett (EUV) Bildgebung entwéckelt sinn, souwuel ex-situ wéi och in-situ. Si erreechen eng Quanteeffizienz vu bal 100% am Photonenenergieberäich vun 80–1000 eV, mat enger Gesamtquantitéitsreduktioun vu méi wéi 90% iwwer de ganze Beräich, an a bestëmmte Bänner bal 100%.
D'Kameraen ënnerstëtzen e Modus mat voller Opléisung (2048 × 2048) mat enger Bildfrequenz vun 24 fps, e puer Zéngmol méi séier wéi konventionell BSI CCDs. Si sinn voll fäeg, BSI CCDs fir mëll Röntgen-Multilayer-Bildgebung z'ersetzen, wat Uwendungen a virdru limitéierte Fuerschungsberäicher erméiglecht.
