Waga 536
Libra 536 to kamera z globalną migawką, przeznaczona do szybkich i wysokorozdzielczych zastosowań obrazowania, oferująca szerokie pokrycie widmowe od światła widzialnego do bliskiej podczerwieni (NIR). Wyposażona w czujnik z globalną migawką i interfejs 10 GigE o dużej przepustowości, kamera zapewnia obrazowanie w pełnej rozdzielczości 8,1 megapiksela z szybkością do 152 kl./s, co czyni ją doskonałym rozwiązaniem w procesach produkcji półprzewodników, takich jak inspekcja płytek półprzewodnikowych i zaawansowane pakowanie.
Libra 536 obsługuje obrazowanie szerokospektralne w zakresie 400–1100 nm, osiągając 72% QE przy długości fali 470 nm. Jej wysoka wydajność w świetle widzialnym umożliwia precyzyjne wykrywanie defektów powierzchniowych, takich jak zarysowania czy zanieczyszczenia na obudowach układów scalonych, a funkcja NIR pozwala na penetrację przezroczystych podłoży w celu ujawnienia wewnętrznych defektów strukturalnych, zapewniając większy zakres kontroli na wielu etapach produkcji.
Zbudowana w oparciu o architekturę prawdziwej migawki globalnej, kamera Libra 536 rejestruje szybki ruch bez zniekształceń i artefaktów związanych z migawką toczącą. Dzięki rozdzielczości 8,1 MP i prędkości do 152 kl./s kamera gwarantuje niezawodne wykrywanie defektów, zapobiegając przekrzywieniu lub rozmyciu obrazu, które mogłyby prowadzić do fałszywych wyników lub przeoczeń defektów. Dzięki temu kamera idealnie nadaje się do szybkiego skanowania dużych obszarów, powszechnie stosowanego w produkcji półprzewodników.
Interfejs 10 GigE zapewnia stabilną, bezstratną transmisję danych o wysokiej rozdzielczości, obsługując systemy wielokamerowe i systemy dalekiego zasięgu. Zewnętrzne wejście wyzwalające umożliwia precyzyjną synchronizację z urządzeniami do inspekcji półprzewodników, gwarantując precyzyjny czas „od ruchu do ekspozycji”. Jest to szczególnie korzystne w przypadku procesów skanowania krokowego i linii produkcyjnych z ciągłym transportem, umożliwiając elastyczną integrację systemów i stabilną pracę o wysokiej przepustowości.
Zaloguj się, aby pobrać ten plik.
Login