Provocări ale aplicației
Sursele de radiații sincrotron acoperă o gamă spectrală largă, de la infraroșu la raze X dure, servind ca instrumente esențiale pentru analiza structurală și știința materialelor. În benzile de raze X vizibile și dure, imagistica poate fi efectuată prin ferestre în aerul ambiant. Cu toate acestea, pentru razele ultraviolete și razele X moi în vid, este necesară detectarea directă în vid. Prin urmare, camerele trebuie să ofere un răspuns spectral de bandă largă, o rezoluție ultra-înaltă și o capacitate de imagistică de format mare, asigurând în același timp stabilitatea în timpul funcționării cu randament ridicat și de lungă durată.
Dhyana XF95 / XV95
Camere sCMOS cu raze X moi și EUV
Dhyana XF95 / XV95, dezvoltate de TUCsen, sunt camere sCMOS specializate, concepute pentru imagistică cu raze X moi (SXR) și ultraviolet extrem (EUV), atât ex-situ, cât și in situ. Acestea ating o eficiență cuantică de aproape 100% în intervalul de energie fotonică de 80–1000 eV, cu o eficiență cuantică generală care depășește 90% pe întregul interval și se apropie de 100% în anumite benzi.
Camerele acceptă un mod de rezoluție maximă (2048 × 2048) cu o rată de cadre de 24 fps, de câteva zeci de ori mai rapidă decât camerele CCD BSI convenționale. Acestea sunt pe deplin capabile să înlocuiască camerele CCD BSI pentru imagistica multistrat cu raze X moi, permițând aplicații în domenii de cercetare anterior limitate.
