Высокоскоростная линейная сканирующая камера 8K TDI

8K высокоскоростная TDI-sCMOS камера

180-1100 нм

256 стадий TDI

500 кГц при 8 К

Интерфейс CXP x 4

Вентиляторное / Пассивное охлаждение

Цены и варианты

Обзор

Gemini 8KTDI LT — это облегченная платформа для получения изображений методом TDI, разработанная для масштабируемых задач промышленного контроля. Сохраняя возможности количественной визуализации научного уровня, присущие предыдущему поколению Gemini 8KTDI, платформа отличается компактной конструкцией, оптимизированной для промышленных условий. Она отвечает ключевым требованиям к точности контроля, операционной эффективности, системной интеграции и контролю затрат для современных высокопроизводительных производственных линий.

Облегченная конструкция для эффективной интеграции

По сравнению с высокопроизводительной камерой предыдущего поколения 8KTDI, Gemini 8KTDI LT отличается уменьшенными на 64% габаритами, на 75% меньшим весом и на 50% меньшим энергопотреблением, что значительно снижает нагрузку на системные ресурсы. Для повышения эффективности интеграции были оптимизированы несколько ключевых конструктивных компонентов:
① Доступны два варианта охлаждения — пассивное и принудительное воздушное охлаждение, — которые заменяют предыдущую интегрированную систему охлаждения воздухом и водой и обеспечивают большую гибкость при интеграции в производственную линию.
② Для сокращения циклов разработки оборудования и ввода системы в эксплуатацию был внедрен интерфейс CXP, более совместимый с основными системами промышленного оборудования.

Линейная частота 500 кГц
для высокопроизводительной промышленной инспекции

В крупномасштабных сценариях промышленного контроля, таких как передовая упаковка и автоматизированный оптический контроль (АОП), производственные платформы, как правило, являются зрелыми и высокостабильными. В результате ключевые требования к оборудованию для получения изображений сосредоточены на совместимости с производственной линией и долгосрочной надежности.
Прибор Gemini 8KTDI LT обеспечивает стандартную скорость передачи данных 500 кГц при частоте 8 кГц, что полностью отвечает требованиям стабильной работы в условиях больших объемов контроля качества. По сравнению с традиционными моделями, он также обеспечивает больший запас по скорости, эффективно поддерживая будущие улучшения тактового времени производства.

Количественная производительность научного уровня
для обеспечения более высокой доходности

Телескоп Gemini 8KTDI LT унаследовал преимущества высокопроизводительной модели 8KTDI предыдущего поколения для съемки в условиях низкой освещенности, предлагая при этом два варианта сенсора:
① Версия, оптимизированная для видимого диапазона: охватывает диапазон от 300 нм до 1100 нм, с пиковой квантовой эффективностью 94,2%.
② Версия, оптимизированная для УФ-излучения: охватывает диапазон от 180 нм до 1100 нм, с квантовой эффективностью до 65,8% на критической длине волны 266 нм.
Кроме того, технологии точного контроля температуры и коррекции однородности PRNU/DSNU на уровне пикселей, разработанные компанией Tucsen, обеспечивают стабильную количественную точность обнаружения дефектов, что является критически важной гарантией выхода годной продукции.

Матрица продуктов на основе платформ для удовлетворения разнообразных потребностей приложений.

Gemini 8KTDI LT — это не просто камера, а гибко настраиваемая платформа для получения изображений. В настоящее время доступны три различные модели:
① G8KTDILT-FAN-CXP: оптимизированный для видимого света датчик + архитектура активного воздушного охлаждения, идеально подходит для биологической флуоресцентной визуализации и высокоточной количественной оценки в условиях низкой освещенности в промышленных приложениях темного поля.
② G8KTDILT-HS-CXP: оптимизированный для видимого света датчик + архитектура пассивного охлаждения, лучше подходит для контроля качества полупроводников в светлом поле и для традиционных задач промышленного машинного зрения.
③ G8KTDILT-UV-HS-CXP: УФ-оптимизированный датчик + пассивное охлаждение, разработанный для контроля качества полупроводниковых изделий и высокоточного обнаружения микродефектов в промышленности.

Спецификация >