Yleiskatsaus

Puolijohteiden tarkastus on kriittinen vaihe integroitujen piirien valmistusprosessin tuoton ja luotettavuuden varmistamisessa. Ydinilmaisimina tieteellisillä kameroilla on ratkaiseva rooli – niiden resoluutio, herkkyys, nopeus ja luotettavuus vaikuttavat suoraan vikojen havaitsemiseen mikro- ja nanotasolla sekä tarkastusjärjestelmien vakauteen. Monipuolisten sovellustarpeiden täyttämiseksi tarjoamme kattavan kameravalikoiman, aina suurikokoisista ja nopeista skannauksista edistyneisiin TDI-ratkaisuihin, joita käytetään laajalti kiekkojen vikatarkastuksessa, fotoluminesenssitestauksessa, kiekkojen metrologiassa ja pakkausten laadunvalvonnassa.