개요

반도체 검사는 집적 회로 제조 공정 전반에 걸쳐 수율과 신뢰성을 보장하는 데 매우 중요한 단계입니다. 핵심 검출기인 과학용 카메라는 결정적인 역할을 하며, 해상도, 감도, 속도 및 신뢰성은 마이크로 및 나노 스케일에서의 결함 검출과 검사 시스템의 안정성에 직접적인 영향을 미칩니다. 다양한 응용 분야의 요구 사항을 충족하기 위해 당사는 대형 고속 스캐닝 카메라부터 고급 TDI 솔루션에 이르기까지 웨이퍼 결함 검사, 광발광 검사, 웨이퍼 계측 및 패키징 품질 관리 분야에 널리 사용되는 포괄적인 카메라 포트폴리오를 제공합니다.