Visão geral

A inspeção de semicondutores é uma etapa crítica para garantir o rendimento e a confiabilidade em todo o processo de fabricação de circuitos integrados. Como detectores essenciais, as câmeras científicas desempenham um papel decisivo — sua resolução, sensibilidade, velocidade e confiabilidade impactam diretamente a detecção de defeitos em micro e nanoescala, bem como a estabilidade dos sistemas de inspeção. Para atender às diversas necessidades de aplicação, oferecemos um portfólio completo de câmeras, desde varredura de alta velocidade em grandes formatos até soluções avançadas de TDI (Detecção e Interferência de Dados), amplamente utilizadas em inspeção de defeitos em wafers, testes de fotoluminescência, metrologia de wafers e controle de qualidade de embalagens.