Prezentare generală

Inspecția semiconductorilor este o etapă esențială în asigurarea randamentului și fiabilității pe tot parcursul procesului de fabricație a circuitelor integrate. Ca detectoare de miez de circuit, camerele științifice joacă un rol decisiv - rezoluția, sensibilitatea, viteza și fiabilitatea lor au un impact direct asupra detectării defectelor la scară micro și nanometrică, precum și asupra stabilității sistemelor de inspecție. Pentru a răspunde diverselor nevoi ale aplicațiilor, oferim un portofoliu complet de camere, de la scanare de mare viteză de format mare până la soluții TDI avansate, utilizate pe scară largă în inspecția defectelor de pe napolitane, testarea fotoluminescenței, metrologia napolitanelor și controlul calității ambalajelor.