Обзор

Контроль качества полупроводников является критически важным этапом обеспечения выхода годной продукции и надежности на всех этапах производства интегральных схем. Научные камеры, как основные детекторы, играют решающую роль — их разрешение, чувствительность, скорость и надежность напрямую влияют на обнаружение дефектов на микро- и наномасштабе, а также на стабильность систем контроля. Для удовлетворения разнообразных потребностей мы предлагаем широкий ассортимент камер, от высокоскоростных сканирующих камер большого формата до передовых решений TDI, широко используемых в контроле дефектов пластин, фотолюминесцентном тестировании, метрологии пластин и контроле качества упаковки.