概述

半導體檢測是確保積體電路製造過程中良率和可靠性的關鍵步驟。作為核心探測器，科學相機發揮決定性作用——其分辨率、靈敏度、速度和可靠性直接影響微米級和奈米級缺陷的檢測，以及檢測系統的穩定性。為了滿足各種應用需求，我們提供全面的相機產品組合，從大幅面高速掃描到先進的TDI解決方案，廣泛應用於晶圓缺陷檢測、光致發光測試、晶圓計量和封裝品質控制等領域。