L'inspection des semi-conducteurs est une étape cruciale pour garantir le rendement et la fiabilité du processus de fabrication des circuits intégrés. En tant que détecteurs clés, les caméras scientifiques jouent un rôle déterminant : leur résolution, leur sensibilité, leur vitesse et leur fiabilité ont un impact direct sur la détection des défauts à l'échelle micro et nanométrique, ainsi que sur la stabilité des systèmes d'inspection. Pour répondre aux besoins variés des applications, nous proposons une gamme complète de caméras, allant du balayage haute vitesse grand format aux solutions TDI avancées, largement déployées pour l'inspection des défauts des wafers, les tests de photoluminescence, la métrologie des wafers et le contrôle qualité des packagings.